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Principles of Analytical Electron Microscopy 1986 edition
Goldstein Joseph
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Principles of Analytical Electron Microscopy 1986 edition
Goldstein Joseph
All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention.
448 pages, biography
Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
Erscheinungsdatum | 31. Juli 1986 |
ISBN13 | 9780306423871 |
Verlag | Springer Science+Business Media |
Seitenanzahl | 448 |
Maße | 156 × 234 × 26 mm · 830 g |
Sprache | Englisch |
Redakteur | Goldstein, Joseph |
Redakteur | Joy, David C. |
Redakteur | Romig Jr., Alton D. |
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