Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Bücher - Cambridge University Press - 9780521017954 - 22. August 2005
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

460 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 22. August 2005
ISBN13 9780521017954
Verlag Cambridge University Press
Seitenanzahl 460
Maße 170 × 244 × 25 mm   ·   731 g

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