Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution - Tsong, Tien T. (Pennsylvania State University) - Bücher - Cambridge University Press - 9780521019934 - 15. September 2005
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Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

Tsong, Tien T. (Pennsylvania State University)

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Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

Atom-probe field ion microscopy is the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, while chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. This book presents the basic principles and illustrates the capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution.

400 pages, black & white illustrations

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 15. September 2005
ISBN13 9780521019934
Verlag Cambridge University Press
Seitenanzahl 400
Maße 157 × 234 × 22 mm   ·   556 g
Sprache Englisch  

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