Yield and Reliability in Microwave Circu - Michael D. Meehan - Bücher - Artech House Publishers - 9780890065273 - 1. Dezember 1993
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Yield and Reliability in Microwave Circu

Michael D. Meehan

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Yield and Reliability in Microwave Circu

A reference for anyone involved with microwave design. It tackles the practical aspects of microwave statistical design and introduces statistical design techniques that encompass many different applications. This presentation focuses on two main example areas - microwave circuits and systems.

300 pages, 1, black & white illustrations

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 1. Dezember 1993
ISBN13 9780890065273
Verlag Artech House Publishers
Seitenanzahl 300
Maße 152 × 229 × 20 mm   ·   585 g

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