Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Bücher - Springer London Ltd - 9781447124696 - 13. Januar 2012
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Tomi Laurila

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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

240 pages, 113 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 13. Januar 2012
ISBN13 9781447124696
Verlag Springer London Ltd
Seitenanzahl 218
Maße 155 × 235 × 18 mm   ·   453 g
Sprache Englisch  

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