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X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications 1. Ausgabe
Lee, Myeongkyu (Yonsei University, Korea)
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X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications 1. Ausgabe
Lee, Myeongkyu (Yonsei University, Korea)
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how
302 pages, 219 Illustrations, black and white
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 31. März 2021 |
| ISBN13 | 9781774635933 |
| Verlag | Apple Academic Press Inc. |
| Seitenanzahl | 302 |
| Maße | 228 × 150 × 19 mm · 438 g |
| Sprache | Englisch |
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