Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Bücher - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1. November 2012
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Peter Pichler

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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 1. November 2012
ISBN13 9783709172049
Verlag Springer Verlag GmbH
Seitenanzahl 554
Maße 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Sprache Englisch  
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